Personnes concernées

Ingénieurs et techniciens des laboratoires industriels et des entreprises ainsi que les personnes concernées par l'assurance qualité.

Objectifs

Le but de ce stage est de présenter les méthodes d'analyse par fluorescence X, diffractométrie X ainsi que leurs applications industrielles. A l'issue du stage, le participant sera capable de les utiliser s'il est confronté à des contrôles de matériaux.

Ce stage de base pour débutants permettra de suivre les stages "Méthodes d'Analyse par Fluorescence X" et/ou "Méthodes d'Analyse des Poudres par Diffraction X".

Programme

Théorie et applications

Fluorescence X :

• Principe et fondements de la fluorescence X.
• Description d'un spectromètre.
• Introduction aux méthodes d'analyse qualitative et quantitative.
• Préparation des échantillons.
• Applications industrielles.

Diffractométrie X :

• Notion de cristallographie.
• Principe de la diffraction des poudres.
• Description d'un diffractomètre.
• Dépouillement des diagrammes.
• Description des diverses applications en diffraction X.

Sanction de la formation

Cette formation donne lieu à la délivrance d'une attestation de participation.

Une évaluation en fin de formation permet de mesurer l'atteinte des objectifs et la satisfaction des stagiaires.

Méthodes pédagogiques

Alternance d'exposés théoriques et de travaux pratiques sur spectromètre X, diffractomètre X.

Analyse d'échantillons typiques aux industries et laboratoires.

Participation active.

Possibilité de suivre sur 2 jours uniquement les bases de la diffraction X ou les bases de la fluorescence X.

Responsables scientifiques

M. Norbert BROLL, Consultant (FORTEX).

M. Claude SPEISSER, IUT Louis Pasteur.